產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER當前位置:首頁產(chǎn)品中心實驗檢測儀器高倍金相顯微鏡
相關文章
RELATED ARTICLES品智創(chuàng)思APO超長半導體高倍測金相量顯微鏡是為檢測微波器件封裝、電子陶瓷封裝芯片、光通訊器件、TO封裝、蝶形封裝激光器、集成外腔半導體激光器、晶振封裝、濾波器封裝、集成電路封裝等有較高腔體產(chǎn)品檢測專業(yè)打造的,填補高倍率、高工作距離這一雙高檢測金相顯微鏡領域市場發(fā)展空白。不同于傳統(tǒng)的金相顯微鏡,
白光共聚焦顯微鏡納米深度3D形狀顯微檢測儀不需要復雜光路調(diào)整程序,即可在非接觸、無破壞、普通大氣環(huán)境下完成3D納米深度的表面檢測分析,提供3D表面形狀和表面紋理的分析, 更可提供鏡面表面的納米級粗糙度和臺階高度分析。 納米深度3D形狀顯微檢測儀具有測量能力,可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描,得到 測量樣品的3D圓形與高度數(shù)據(jù),檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡
PZ-X1便攜式金相顯微鏡是一種輕型小型金相顯微鏡適用于現(xiàn)場、野外的大型鋼材或半成品、成品工件進行金相檢驗,分析處理。儀器可對鋼鐵原材料的組織結構進行鑒定分析,也可以對鋼材材料進行熱處理后的各種組織結構變化的鑒定分析。
M-100DIC型微分干涉數(shù)碼顯微鏡是一款性價比非常高的檢測用光學儀器。導電粒子金相顯微鏡采用無限遠光學成像系統(tǒng),內(nèi)置LED高亮度照明器,引入了微分干涉顯微觀察功能。雙目攝影觀察頭,體現(xiàn)了目視觀察的真實還原,以及數(shù)碼攝影與顯微成像的技術融合,觀察到的干涉圖像具有更強的立體感,適合于非透明材質(zhì)的表面形態(tài)觀察,如液晶屏導電粒子的顯微形態(tài)。是精密制造領域內(nèi)品質(zhì)檢測、結構研究的理想儀器。
微分干涉金相顯微鏡適用于對工件表面的組織結構與幾何形態(tài)進行顯微觀察。采用無限遠光學系統(tǒng)與模塊化功能設計理念,可以方便升級系統(tǒng),實現(xiàn)偏光觀察, DIC觀察等功能,導柱升降裝置,可以快速調(diào)整工作臺與物鏡之間的距離,適用于不同厚度工件檢測。機械移動式載物平臺有效定位工件觀察部位。調(diào)焦機構采用圓柱滾子導向傳動,機構升降平穩(wěn)。產(chǎn)品適用于精密零件,集成電路,包裝材料等產(chǎn)品檢測。
Copyright © 2024北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司 All Rights Reserved 備案號:京ICP備19005501號-1